Расчет на механические воздействия "Блока электронного"
Целью расчета является подтверждение требования технического задания (ТЗ) по пункту "обеспечение стойкости к механическим воздействиям, возникающим в процессе эксплуатации изделия (рис. 1, рис. 2)
Методика расчета
Определение устойчивости к механическим воздействиям проводилось расчетом статической прочности по критерию Мизеса при нагрузках: статической силы тяжести 1g и перегрузке 20g в направлениях вдоль осей X, Y, Z.
Расчет статической прочности и критических частот колебаний деталей и узлов изделия "Астериск" проводился в программном комплексе "MSC.visualNastran 4D". Данный программный комплекс сертифицирован по международной системе качества ISO 9001.
Принятые допущения
В расчете проводилось моделирование изделия без учета люфтов, амортизаторов и других элементов, оказывающих демпфирующее действие, уменьшающее воздействие колебаний в конструкции.
Исходные данные для расчета
Геометрия изделия представлена на рис. 1, рис. 2
Закрепление: по местам крепления амортизаторов блока отображения информации (рис. 3)
Нагрузки – сила тяжести 1g , 20g, приложенная для различной ориентации прибора в пространстве (вдоль осей x, y, z)
Результаты расчета
В результате расчета получены значения напряжений по критерию Мизеса.
- для силы тяжести 1g, приложенной вдоль оси Z (рис. 4 - рис. 6): 1,02 МПа;
- для силы тяжести 20g, приложенной вдоль оси Х (рис. 7 - рис. 9): 21,4 МПа;
- для силы тяжести 20g, приложенной вдоль оси Y (рис. 10 - рис. 12): 31,2 МПа;
- для силы тяжести 20g, приложенной вдоль оси Z (рис. 13 - рис. 15): 20,4 МПа.
Заключение
Исходя из полученных результатов, с учетом принятых допущений, краткости и переменного характера времени приложения возмущающих воздействий, демпфирующих свойств амортизаторов, изделие "Блок электронный" стойко к механическим воздействиям:
- с перегрузкой 20g в направлении оси х - с коэффициентом запаса kσ=18,1; вдоль оси y: kσ=12,4; вдоль оси z (рабочее положение): kσ=18,9.
т.е. отвечает требованиям ТЗ.
Смотрите также: Расчет на механические воздействия "Блока электронного"(Часть 2)